x射線峰位測量檢測費用

免費初檢。因檢測項目以及實驗復雜程度不同，需聯系工程師確定后進行報價。

檢測時間：一般3-10個工作日（特殊樣品除外）。有的項目可加急1.5天出報告。

x射線峰位測量檢測報告用途

報告類型：電子報告、紙質報告(中文報告、英文報告、中英文報告)。

檢測用途： 電商平臺入駐；商超賣場入駐；產品質量改進；產品認證；出口通關檢驗等

x射線峰位測量檢測報告如何辦理？檢測項目及標準有哪些？百檢第三方檢測機構，嚴格按照x射線峰位測量檢測相關標準進行測試和評估。做檢測，找百檢。我們只做真實檢測。

涉及x射線峰位測量的標準有176條。

國際標準分類中，x射線峰位測量涉及到分析化學、金屬材料試驗、無損檢測、半導體材料、表面處理和鍍涂、核能工程、光學設備、絕緣流體、水質、長度和角度測量、土質、土壤學、輻射防護、犯罪行為防范、輻射測量、詞匯、有色金屬、醫療設備、實驗室醫學、耐火材料、電工和電子試驗、燃料、石油產品綜合、攝影技術、質量、信息技術應用、電學、磁學、電和磁的測量、電子管、航空航天制造用材料。

在中國標準分類中，x射線峰位測量涉及到基礎標準與通用方法、金屬物理性能試驗方法、基礎標準與通用方法、半金屬與半導體材料綜合、材料防護、核儀器與核探測器綜合、電子光學與其他物理光學儀器、化學、電工儀器、儀表綜合、輻射防護儀器、質譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯用裝置、重金屬及其合金、重金屬及其合金分析方法、電氣設備與器具綜合、實驗室基礎設備、低壓電器綜合、醫用射線設備、基礎標準與通用方法、燃料油、滾動軸承、輻射防護監測與評價、涂料、Ｘ射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器、硅質耐火材料、電子元件綜合、通用核儀器、基礎標準與通用方法、石油產品綜合、金屬無損檢驗方法、物理學與力學、基礎標準與通用方法、物性分析儀器、、程序語言、電真空器件綜合、電容器、元素半導體材料。

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關于x射線峰位測量的標準

GB/T 36053-2018X射線反射法測量薄膜的厚度、密度和界面寬度儀器要求、準直和定位、數據采集、數據分析和報告

GB/T 34612-2017藍寶石晶體X射線雙晶衍射搖擺曲線測量方法

國家質檢總局，關于x射線峰位測量的標準

GB/T 25758.5-2010無損檢測.工業X射線系統焦點特性.第5部分：小焦點和微焦點X射線管的有效焦點尺寸的測量方法

GB/T 25188-2010硅晶片表面超薄氧化硅層厚度的測量 X射線光電子能譜法

GB/T 24576-2009高分辯率X射線衍射測量GaAs襯底生長的AlGaAs中Al成分的試驗方法

GB/T 16921-2005金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量 X射線光譜法

GB/T 11685-2003半導體X射線探測器系統和半導體X射線能譜儀的測量方法

GB/T 17723-1999黃金制品鍍層成分的X射線能譜測量方法

GB/T 16921-1997金屬覆蓋層厚度測量X射線光譜方法

GB/T 13388-1992硅片參考面結晶學取向X射線測量方法

美國材料與試驗協會，關于x射線峰位測量的標準

ASTM D6502-10(2022)用X射線熒光（XRF）測量工藝水中低水平懸浮固體和離子固體的在線綜合樣品的標準試驗方法

ASTM E915-21殘余應力測量用X射線衍射儀校準驗證的標準實施規程

ASTM B568-98(2021)通過X射線光譜法測量涂層厚度的標準測試方法

ASTM E2860-20用于軸承鋼的X射線衍射的殘余應力測量的標準測試方法

ASTM E2119-20使用現場便攜式X射線熒光（XRF）器件對涂料或其他涂料中鉛含量進行原位測量的質量體系標準實踐

ASTM E915-19殘余應力測量用X射線衍射儀校準驗證的標準試驗方法

ASTM E1426-14(2019)e1用X射線衍射技術測定殘余應力測量用X射線彈性常數的標準試驗方法

ASTM E2119-16采用現場便攜式X射線熒光 (XRF) 設備對油漆或者其他涂料中鉛含量進行原位測量的質量系統標準實施規程

ASTM E1426-14采用X射線衍射技術測定殘余應力測量中使用的X射線彈性常數的標準試驗方法

ASTM D7757-12通過單色波長色散X射線熒光分光分度計測量汽油及相關產品中硅的標準試驗方法

ASTM E2860-12使用X射線衍射法測量軸承鋼殘余應力的標準試驗方法

ASTM A754/A754M-11鋼表面金屬涂層重量(質量)X射線熒光測量的標準試驗方法

ASTM E2120-10測量漆膜中鉛含量用便攜式X射線熒光光譜儀性能評估的標準操作規程

ASTM E2120-10(2016)用于涂料薄膜中鉛含量測量的便攜式X射線熒光分光計的性能評估標準實施規程

ASTM E915-10殘余應力測量用X射線衍射儀校準檢定的標準試驗方法

ASTM D6502-10(2015)利用X射線熒光 (XRF) 測量生產用水中低水平懸浮固體和離子固體即時整合樣品的標準試驗方法

ASTM D6502-08用X射線熒光（XRF）連續測量工藝水中低水平可過濾物質（懸浮固體）和不可過濾物質（離子固體）的在線復合樣品的標準試驗方法

ASTM D5059-07X射線分光光度法測量汽油中鉛含量的標準試驗方法

ASTM ISO/ASTM51431-05食品加工用電子束和X射線(韌制輻射)輻射設備劑量測量的標準實施規程

ASTM E2120-00涂料薄膜中鉛含量測量用便攜式X射線熒光光譜儀性能評估的標準實施規程

ASTM E2119-00用野外便攜式X射線熒光設備現場測量涂料或其它覆層中鉛含量用質量系統的標準規程

ASTM D6502-99(2003)用X射線熒光（XRF）在線測量水中低水平微粒和溶解金屬的標準試驗方法

ASTM D6502-99用X射線熒光（XRF）在線測量水中低水平微粒和溶解金屬的標準試驗方法

ASTM D5059-98(2003)e1X射線分光光度法測量汽油中鉛含量的標準試驗方法

ASTM D5059-98X射線分光光度法測量汽油中鉛含量的標準試驗方法

ASTM E1426-98(2003)殘余應力X-射線缺陷測量效果彈性參數測定的試驗方法

ASTM B568-98(2014)用X射線光度法測量鍍層厚度的標準試驗方法

ASTM B568-98(2009)用X射線光度法測量鍍層厚度的標準試驗方法

ASTM E915-96殘余應力測量用X射線衍射儀校準檢定的測試方法

ASTM E915-96(2002)殘余應力測量用X射線衍射儀校準檢定的測試方法

ASTM E1695-95(2006)e1計算機層析X射線攝影(CT)系統性能測量的標準試驗方法

ASTM F847-94(1999)單晶硅片參考面結晶學取向X射線測量的標準試驗方法

國際標準化組織，關于x射線峰位測量的標準

ISO 22581:2021表面化學分析X射線光電子能譜測量掃描的近實時信息含碳化合物表面污染的識別和校正規則

ISO 14701:2018表面化學分析 - X射線光電子能譜 - 氧化硅厚度的測量

ISO 22489:2016微光束分析.電子探針微量分析.運用波長色散X射線光譜測量法定量分析塊狀樣品

ISO 14701:2011表面化學分析.X射線光電子能譜.二氧化硅厚度的測量

ISO 21587-3:2007硅酸鋁耐火材料的化學分析(可選擇X射線熒光法).第3部分:感應耦合等離子體和原子吸收光譜測量法

ISO 22489:2006微光束分析.電子探針微量分析.運用波長色散X射線光譜測量法定量分析塊狀樣品

ISO 3497:2000金屬覆蓋層 鍍層厚度的測量 X射線光譜法

ISO 3497:1990金屬鍍層.鍍層厚度的測量.X射線光譜測定法

ISO 3497:1976金屬涂層.涂層厚度的測量.X射線光譜測定法

國際電工委員會，關于x射線峰位測量的標準

IEC 61010-2-091-2019用于測量 控制和實驗室使用的電氣設備的安全要求 - 第2-091部分:機柜X射線系統的特殊要求

IEC 61010-2-091:2019 RLV測量、控制和實驗室用電氣設備的安全要求第2-091部分:柜式X射線系統的特殊要求

IEC 61010-2-091-2019 RLV測量、控制和實驗室用電氣設備的安全要求第2-091部分:柜式X射線系統的特殊要求

IEC 62945:2018輻射防護儀器.測量X射線計算機斷層掃描（CT）安檢系統的成像性能

IEC 62945-2018輻射防護儀器.測量X射線計算機斷層掃描（CT）安檢系統的成像性能

IEC 62709-2014輻射防護儀器 - 人體安全檢測 - 測量X射線系統的成像性能

IEC 62709:2014輻射防護儀器.人員的安全屏蔽.X射線系統成像性能的測量

IEC 61010-2-091-2012用于測量 控制和實驗室使用的電氣設備的安全要求 - 第2-091部分:機柜X射線系統的特殊要求

IEC 61010-2-091:2012測量、控制和實驗室用電氣設備的安全性要求.第2-091部分:柜式X射線系統詳細要求

IEC 61526:2010輻射防護裝置.X、γ、中子和β射線輻射個人劑量當量Hp(10)和Hp(0.07)的測量.直讀式個人劑量當量計

IEC 61526:2005輻射防護儀表.X、γ、中子和β射線輻射個人劑量當量Hp(10)和Hp(0.07)的測量.直讀式個人劑量當量計和監測器

英國標準學會，關于x射線峰位測量的標準

BS ISO 14701:2018表面化學分析. X射線光電子能譜學. 二氧化硅厚度測量

BS ISO 22489:2016微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測量法作塊狀樣品的定量點分析

BS IEC 62709:2014輻射防護儀器. 人員的安全屏蔽. X射線系統成像性能的測量

BS EN 61010-2-091-2012測量, 控制和實驗室使用電氣設備的安全要求. 柜式X射線系統的詳細要求

BS ISO 14701:2011表面化學分析.X射線光電子能譜學.二氧化硅厚度測量

BS EN 61526-2007輻射防護儀器裝置.X、γ、中子和β射線輻射個人劑量當量Hp(10)和Hp(0.07)的測量.直讀式個人劑量當量計和監控器

BS ISO 22489:2007微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測量法作塊狀樣品的定量點分析

BS EN 14096-1-2003無損檢驗.X射線照相膠片數字化系統的質量鑒定.定義、成像質量參數的定量測量，標準參考膠片以及定性控制

BS EN 14096-1-2003 (2008)無損檢驗.X射線照相膠片數字化系統的質量鑒定.定義、成像質量參數的定量測量，標準參考膠片以及定性控制

BS EN ISO 3497:2001金屬覆層.覆層厚度的測量.X射線光譜測定法

BS EN 12543-5-1999無損檢驗.無損檢驗用工業X射線系統的焦點特性.小型和微型聚焦X射線管有效焦點尺寸測量

BS 7518-1995輻射防護儀器.環境監測用測量X射線或γ射線的便攜式、可移動或者固定安裝的設備.集成組裝

德國標準化學會，關于x射線峰位測量的標準

DIN EN 61010-2-091 Berichtigung 1-2016測量、控制和實驗室用電器的安全性要求.第2-091部分:櫥柜X射線系統用詳細要求(IEC 61010-2-091-2012).德文版本EN 61010-2-091-2012;DIN EN 61010-2-091 (VDE 0411-2-091)-2013-01的勘誤

DIN IEC 62709:2015輻射防護儀器.人員的安全屏蔽.X射線系統成像性能的測量(IEC 62709-2014)

DIN 51418-2-2015X射線光譜分析.X射線散射和X射線熒光分析(RFA).第2部分:定義和測量、校準及評估的基本原則

DIN EN 61526-2013輻射防護儀器裝置.X、γ、中子和β射線輻射個人劑量當量H<指數p>(10)和H<指數p>(0.07)的測量.直讀式個人劑量當量計(IEC 61526-2010,修訂本).德文版本EN 61526-2013

DIN EN 61010-2-091-2013測量、控制和實驗室用電器的安全性要求.第2-091部分:櫥柜X射線系統用詳細要求(IEC 61010-2-091-2012).德文版本EN 61010-2-091-2012

DIN EN 61526-2007輻射防護儀器裝置.X、γ、中子和β射線輻射個人劑量當量H<指數p>(10)和H<指數p>(0.07)的測量.直讀式個人劑量當量計和監控器(IEC 61526-2005的修正版)

DIN EN ISO 3497:2001金屬鍍層.鍍層厚度測量.X射線光譜測定法

DIN 51418-2 Bb.1-2000X射線光度法.X射線散射和X射線熒光分析(XRF).第2部分:定義和測量、校準及對結果評定的基本原理.附加信息和計算范例

DIN EN 13068-1-2000無損檢驗.X射線檢查試驗.第1部分:成像特性定量測量

DIN EN 12543-5-1999無損檢測.無損檢測用工業X射線系統焦點的特性.第5部分:*小和*大聚焦X射線電子管有效焦點尺寸測量

DIN 51418-2-1996X射線光譜分析.X射線散射和X射線熒光分析(RFA).第2部分:定義和測量、校準及評估的基本原則

DIN 50443-1-1988半導體工藝使用材料的檢驗.第1部分:用X射線外形測量法檢測半導體單晶硅中晶體缺陷和不均勻性

，關于x射線峰位測量的標準

PN J80010-1973X和γ射線的光度測量劑量裝置．一般要求和測試方法

法國標準化協會，關于x射線峰位測量的標準

NF A08-701-1-2015銅和銅合金.用波長分布X-射線熒光光譜法(XRF)測定主要結構和雜質.第1部分:常規測量指南

NF C19-105-2013輻射防護裝置.X、γ、中子和β射線輻射個人劑量當量Hp(10)和Hp(0.07)的測量.直讀式個人劑量當量計

NF C42-020-2-091-2013測量, 控制和實驗室使用電氣設備的安全要求. 第2-091部分: 柜式X射線系統的詳細要求

NF S92-502-2013醫用生物實驗室.人類輻射學.肺.能量小于200 keV的X-射線和α-射線發射器的測量

NF X21-006-2007微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測量法進行塊狀樣品的定量點分析

NF A08-701-2-2006銅和銅合金.用波長分布X-射線熒光光譜法(XRF)測定主要結構和雜質.第2部分:常規測量

NF A08-701-1-2006銅和銅合金.用波長分布X-射線熒光光譜法(XRF)測定主要結構和雜質.第1部分:常規測量指南

NF X21-003-2006微光束分析.電子探針顯微分析.波長分布X射線光譜測量法定量分析指南

NF A09-252-1-2003無損檢驗.X射線照相膠片數字化系統的合格檢驗.第1部分:定義、圖像質量參數的定量測量、標準參照膠片和定性控制

NF M60-512-3-2000校準劑量計和劑量率計及測量作為光子能量作用反應用X射線和伽瑪射線的參考輻射.第3部分:范圍及人員劑量計的校準和作為能量作用的反應和入射角度的測定

NF M60-512-2-2000校準劑量計和劑量率計及測量作為光子能量作用反應用X射線和伽瑪射線的參考輻射．第2部分:對能量范圍在8KeV-13MeV和4-9MeV的輻射防護的劑量測量法.

NF A09-230-2-2000無損試驗.X射線電子管電壓的測量和評價.第2部分:用厚濾膜法的穩定性檢驗

NF A09-231-5-1999無損檢驗.無損檢驗用工業X射線系統中焦點的特性.第5部分:*小和*大聚焦X射線電子管的有效焦點尺寸的測量

NF A09-230-3-1999無損檢驗.X射線電子管電壓的測量和評價.第3部分:光譜測定法

NF A09-230-1-1999無損檢驗.X射線電子管電壓的測量和評價.第1部分:分壓器法

NF M60-512-1-1998校準劑量計和劑量率計及測量作為光子能量作用反應用X射線和伽瑪射線的參考輻射

NF X11-683-1981液體內變高度重力沉積粉末顆粒分析.X射線吸收測量法

NF A91-116-1976金屬鍍層.厚度的測量.用X射線光譜術

美國保險商實驗所，關于x射線峰位測量的標準

UL 61010-2-091-2014測量, 控制和實驗室用電氣設備的要求的UL安全標準. 第2-091部分: 機柜X射線系統的特殊要求 (第一版)

韓國標準，關于x射線峰位測量的標準

KS C IEC 61526:2012輻射防護裝置.X、γ、中子和β射線輻射個人劑量當量Hp(10)和Hp(0.07)的測量.直讀式個人劑量當量計

KS L ISO 21587-3:2012硅酸鋁耐火材料的化學分析(可選擇X射線熒光法).第3部分:感應耦合等離子體和原子吸收光譜測量法

KS D ISO 22489:2012微光束分析.電子探針微量分析.運用波長色散X射線光譜測量法定量分析塊狀樣品

KS D ISO 3497:2002金屬鍍層.鍍層厚度的測量.X射線光譜測定法

美國電氣電子工程師學會，關于x射線峰位測量的標準

IEEE N42.47:2010X射線和伽馬射線人身保安系統成像性能測量用美國國家標準

IEEE N 42.47:2010X射線和伽馬射線人身保安系統成像性能測量用美國國家標準

IEEE/ANSI N 42.47:2010人類安檢用X射線和γ射線系統圖像性能測量的美國國家標準

美國國家標準學會，關于x射線峰位測量的標準

ANSI N42.47-2010人類安檢用X射線和γ射線系統圖像表征的測量

ANSI/ASTM D2622:2005用波長色散X-射線熒光光譜測量法檢測石油產品中硫含量的試驗方法

ANSI/ASTM E915:1996測量剩余應力用的X射線衍射儀驗證方法

ANSI/EIA 503-A-1990直觀電視顯像管X射線輻射測量的推薦規程

ANSI/EIA 501-A-1990光柵掃描直觀式數字顯示陰極射線管X射線輻射測量的推薦規程

ANSI/EIA 500-A-1989發射陰極射線管X射線輻射測量的推薦規程

歐洲標準化委員會，關于x射線峰位測量的標準

EN ISO 21587-3:2007硅酸鋁耐火材料的化學分析(可選擇X射線熒光法).第3部分:感應耦合等離子體和原子吸收光譜測量法［代替:CEN ENV 955-4］

EN ISO 3497:2000金屬覆蓋層.鍍層的厚度測量.X射線光譜法ISO 3497-2000

EN 12543-5-1999無損檢驗.用于無損檢驗的工業X射線系統中焦點的特性.第5部分:小型和微型聚焦X射線管有效焦點尺寸的測量

日本工業標準調查會，關于x射線峰位測量的標準

JIS Z4615-2007工業X-射線儀用有效焦點尺寸的測量

JIS K0131-1996X射線衍射計測量分析的通用規則

JIS Z4615-1993工業用X光射線儀有效焦點尺寸的測量

國家*用標準-總裝備部，關于x射線峰位測量的標準

GJB 5814-2006*用電子器件X射線劑量增強效應測量方法

行業標準-中國金屬協會，關于x射線峰位測量的標準

CSM 01 01 01 08-2006X-射線熒光光譜法測量結果 不確定度評定規范

美國機動車工程師協會，關于x射線峰位測量的標準

SAE HS 784-2003用X射線衍射測量SAE剩余應力

SAE J 784A-1971X射線衍射測量殘余應力

美國機械工程師協會，關于x射線峰位測量的標準

ASME SEC V B SE-1165-2001用針孔成象法測量工業X射線管子件焦點的試驗方法.ASTM E1165-92(R1996)

機械電子工業部，關于x射線峰位測量的標準

JB/T 5068-1991金屬覆蓋層厚度測量 X射線光譜法

美國電子元器件、組件及材料協會，關于x射線峰位測量的標準

ECA EIA-501-A-1990光柵掃描Direct-Vie數據顯示陰極射線管X射線測量的推薦規范

ECA 501-A-1990Direct-View電視圖像管X射線測量的推薦實踐

歐洲電工標準化委員會，關于x射線峰位測量的標準

HD 512 S1-1989光電X射線圖像增強器換算系數的測量

行業標準-電子，關于x射線峰位測量的標準

SJ 20147.1-1992銀和銀合金鍍覆層厚度測量方法X射線熒光光譜法

SJ/T 11096-1996醫用X射線電視設備測量方法

SJ/T 11094-1996醫用X射線圖像增強器電視系統性能參數及測量方法

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