機(jī)械與設(shè)備金屬材料及覆蓋層檢測(cè)報(bào)告怎么辦理?百檢檢測(cè)根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)機(jī)械與設(shè)備金屬材料及覆蓋層檢測(cè)制定相關(guān)方案，對(duì)相關(guān)項(xiàng)目進(jìn)行檢測(cè)分析，并出具機(jī)械與設(shè)備金屬材料及覆蓋層檢測(cè)報(bào)告。CNAS/CMA資質(zhì)齊全，報(bào)告有效的。

一，金相法鍍層厚度測(cè)試采用金相顯微鏡檢測(cè)橫斷面，以測(cè)量金屬覆蓋層、氧化膜層的局部厚度的方法。一般厚度檢測(cè)需要大于1um，才能保證測(cè)量結(jié)果在誤差范圍之內(nèi);厚度越大，誤差越小。

二，庫(kù)侖法適合測(cè)量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽(yáng)*溶解庫(kù)侖法，包括測(cè)量多層體系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆蓋層和合金化擴(kuò)散層的厚度。不僅可以測(cè)量平面試樣的覆蓋層厚度，還可以測(cè)量圓柱形和線材的覆蓋層厚度，尤其適合測(cè)量多層鎳鍍層的金屬及其電位差。測(cè)量鍍層的種類為Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。

三，X-ray 方法適用于測(cè)定電鍍及電子線路板等行業(yè)需要分析的金屬覆蓋層厚度。 包括:金(Au)，銀(Ag)，錫(Sn)，銅(Cu)，鎳(Ni)，鉻(Cr)等金屬元素厚度。

檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)一覽表

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考，更多檢測(cè)相關(guān)信息請(qǐng)咨詢官方客服。