外殼檢測檢驗認證公司機構
檢測標準 序號 檢測標準 檢測對象 檢測項目 1 半導體集成電路外殼總規范 GJB 1420B-2011 外殼 介質耐壓UR 2 混合集成電路外殼總規范 GJB 2440A-2006 3.6.3 外殼 介質耐壓UR 3 半導體光電子器件外殼通用規范 GJB 5438-2005 外殼 介質耐壓UR 4 半導體分立器件外殼通用規范 GJB 923A-2004 外殼 介質耐壓UR 5 半導體集成電路外殼總規范 GJB 1420B-2011 3.9.2 外殼 引